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產(chǎn)品展示/ Product display
三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 TSD系列適用于電子電工、航空航天、汽車摩托車、科研單位、高等院校、各種電子元?dú)饧认嚓P(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫、恒溫環(huán)境下貯存和使用時的適應(yīng)性試驗(yàn),檢測其各性能指標(biāo)。
聯(lián)系電話:0769-81085056
三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 TSD系列
特點(diǎn):
采用圓弧造型及霧面線條處理,高質(zhì)感外觀,并采用平面無反作用把手,操作容易,可靠
全封閉結(jié)構(gòu),采用強(qiáng)力循環(huán)馬達(dá),低噪音冷凍裝置:
附有防震臺墊,使得機(jī)臺在運(yùn)轉(zhuǎn)過程中能保持安靜及穩(wěn)定;
具有被測試件通電測試功能(負(fù)載測試);
采用飛利浦照明窗口燈、內(nèi)詈耐高溫除霧裝置,便于觀察箱內(nèi)產(chǎn)品試驗(yàn)情況
具有多種保護(hù)裝置,性能可靠。
三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 TSD系列
標(biāo)準(zhǔn):
GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫設(shè)備》的要求,
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB2423.2-89(IEC68-2-2);
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法:
GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn)
GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》
GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
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