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產(chǎn)品展示/ Product display
冷熱沖擊試驗箱 可程式 模擬環(huán)境適用于電子電工、航空航天、汽車摩托車、科研單位、高等院校、各種電子元氣件等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫、恒溫環(huán)境下貯存和使用時的適應(yīng)性試驗,檢測其各性能指標。
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冷熱沖擊試驗箱 可程式 模擬環(huán)境
用途概述
在高溫、低溫循環(huán)變化的情況下,測試樣品各項性能指標,具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。材料在高溫、低溫綜合環(huán)境下運輸,可用于產(chǎn)品設(shè)計,改進鑒定及檢驗等環(huán)節(jié),適用于工業(yè)品高溫,低溫的可靠性試驗。廣泛應(yīng)用于電子電工、汽車摩托、航空航天、橡膠、塑膠、金屬、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件測試.
冷熱沖擊試驗箱 可程式 模擬環(huán)境
制冷及風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng):
1、制冷機采用法國原裝“泰康"全封閉壓縮機。
5、風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計,風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標準,并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快。
參照標準:
GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫設(shè)備》的要求
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法GB2423.2-89(IEC68-2-2)
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法:
GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗:
GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》
GB10592-93《高,低混試驗箱技術(shù)條件》
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