快速溫變試驗箱 支持非標定制

型號：TEB-225PF

技術參數(shù)：

1.溫度范圍：-20℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動度：≤±0.5℃（空載時）
6.濕度波動度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時間設定范圍：0～999小時
12.電源電壓：380V±10%
13.設備總功率：3KW～15KW

快速溫變試驗箱 支持非標定制

特點

應力篩選溫變率5℃/min、10℃/min、15℃/min

可執(zhí)行快速溫變(應力篩選)、結露試驗、高溫高濕、溫濕度循環(huán)..等多種試驗

在線控制系統(tǒng)具有防呆、電磁干擾功能

有效達到低噪音、低能耗、節(jié)能減碳的效果

存儲分析功能，配帶SD卡、R485、232、Ethernet連接

機臺多處報警檢測，配置無線遠程報警功能

濕度用水采用新式RO逆滲透濾水器自動供水裝置

標準：

GB/T2424.1-2015環(huán)境試驗

GB/T2424.2-2015電工電子環(huán)境試驗箱：濕熱試驗導則。

GB/T2424.5-2021環(huán)境試驗 第3部分

GB/T2424.6-2021環(huán)境試驗 第3部分

GB/T2424.7-2006電工電子產品環(huán)境試驗

GB/T2424.27-2013環(huán)境試驗

GB/T2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗試驗A:低溫

GB/T2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫

GJB150.3-2009 設備環(huán)境試驗方法 高溫試驗

GJB150.4-2009 設備環(huán)境試驗方法 低溫試驗

GJB 150.9-2009 設備環(huán)境試驗方法  濕熱試驗

GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件