Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
半導(dǎo)體高低溫試驗(yàn)箱適用于對(duì)電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高溫或低溫試驗(yàn),以及高低溫循環(huán)試驗(yàn)的環(huán)境試驗(yàn)箱設(shè)備。
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半導(dǎo)體高低溫試驗(yàn)箱
產(chǎn)品特點(diǎn):
3、大型觀測(cè)視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮,且采用四層真空鋼化玻璃,隨時(shí)清晰地觀測(cè)箱內(nèi)狀況。
半導(dǎo)體高低溫試驗(yàn)箱
型號(hào):THC-408PF
技術(shù)參數(shù):
1.溫度范圍:-40℃~150℃
2.濕度范圍:20%~98%R.H
3.溫度均勻度:≤±2℃(空載時(shí))
4.濕度均勻度:+2%-3%R.H
5.溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃(空載時(shí))
6.濕度波動(dòng)度:±2%
7.溫度偏差:≤±2℃
8.濕度偏差:≤±2%
9.降溫速率:0.7~1.0℃/min
10.升溫速率:1.0~3.0℃/min
11.時(shí)間設(shè)定范圍:0~999小時(shí)
12.電源電壓:380V±10%
13.設(shè)備總功率:3KW~15KW
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2006-40℃高低溫實(shí)驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2001 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
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