電池恒溫恒濕隔爆測試設(shè)備

產(chǎn)品用途：
該儀器適用于工業(yè)產(chǎn)品高、低溫的可靠性試驗。對電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下,檢驗其各項性能指標(biāo)。產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A：

電池恒溫恒濕隔爆測試設(shè)備

技術(shù)參數(shù)

1.溫度范圍：-40℃～150℃(D)

2.濕度范圍：30%～98%R.H（溫度在25℃～95℃）

3.溫度均勻度：≤±2℃  （空載時）

4.濕度均勻度：+2%  -3%R.H

5.溫度波動度：≤±0.5℃ （空載時）

6.濕度波動度：±2%

7.溫度偏差：≤±2℃

8.濕度偏差：≤±2%

9.降溫速率：0.7～1.0℃/min

10.升溫速率：1.0～3.0℃/min

11.時間設(shè)定范圍：0～999 小時

12.電源電壓：380V±10%

13.設(shè)備總功率：3KW～15KW

執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件.

GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術(shù)條件.

GB/ T 2421-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 總則.

GB/ T 2423.21- 1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:高/低氣壓試驗方法 .

GB/ T 2423.25- 1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法 .

GB/ T 2423.26- 1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法 .

GB/T2423.3-89電工電子產(chǎn)品試驗規(guī)程，恒定濕熱試驗方法

GB/T2423.4-89交變濕熱試驗方法

GB/2423.34-86.MIL-STD883（方法1004.2）高低溫組合循環(huán)試驗.