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線性快速溫變循環(huán)測試箱

線性快速溫變循環(huán)測試箱
是一款用于模擬環(huán)境溫度快速變化對產品性能影響的高精度試驗設備。它廣泛應用于電子、電器、通訊、化工、汽車、航空航天等眾多領域,為產品的研發(fā)、質量控制和可靠性驗證提供了重要的測試手段。

  • 產品型號:TEB-800PF
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-12-26
  • 訪  問  量:195
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詳細介紹

線性快速溫變循環(huán)測試箱

產品用途
溫度快速變化試驗箱適用于航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產品、各種電子元氣件在高溫低溫快速變化的環(huán)境下、檢驗其各性能項指標。

線性快速溫變循環(huán)測試箱

型號:TEB-800PF

技術參數:

1.溫度范圍:-20℃~150℃
2.濕度范圍:20%~98%R.H
3.溫度均勻度:≤±2℃(空載時)
4.濕度均勻度:+2%-3%R.H
5.溫度波動度:≤±0.5℃(空載時)
6.濕度波動度:±2%
7.溫度偏差:≤±2℃
8.濕度偏差:≤±2%
9.降溫速率:0.7~1.0℃/min
10.升溫速率:1.0~3.0℃/min
11.時間設定范圍:0~999小時
12.電源電壓:380V±10%
13.設備總功率:3KW~15KW

標準:

GB/T2424.1-2015環(huán)境試驗

GB/T2424.2-2015電工電子環(huán)境試驗箱:濕熱試驗導則。

GB/T2424.5-2021環(huán)境試驗 第3部分

GB/T2424.6-2021環(huán)境試驗 第3部分

GB/T2424.7-2006電工電子產品環(huán)境試驗

GB/T2424.27-2013環(huán)境試驗

GB/T2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗試驗A:低溫

GB/T2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫

GJB150.3-2009 設備環(huán)境試驗方法 高溫試驗

GJB150.4-2009 設備環(huán)境試驗方法 低溫試驗

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