薄膜折彎測(cè)試反復(fù)彎折試驗(yàn)機(jī)

薄膜折彎測(cè)試反復(fù)彎折試驗(yàn)機(jī)
是一款專門用于測(cè)試薄膜屏在不同溫度和濕度條件下性能表現(xiàn)的設(shè)備。它能夠模擬各種惡劣的環(huán)境條件，為薄膜屏的研發(fā)、質(zhì)量檢測(cè)和可靠性評(píng)估提供重要的技術(shù)支持。

產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-12-26
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詳細(xì)介紹

薄膜折彎測(cè)試反復(fù)彎折試驗(yàn)機(jī)

技術(shù)參數(shù)：
1.溫度范圍：+20℃～ 0℃ / -10℃ / -20℃ / -30℃ / -40℃ /-50℃ / -60℃ / -70℃ / -85℃。
2.控制穩(wěn)定度：±0.5℃。
3.分布均勻度：±1.5℃。
4.溫度偏差：≤±2℃。
5.正常升溫時(shí)間：+20℃ ～ +150℃小于45分鐘非線性空載。
6.正常降溫時(shí)間：+20 ～-85℃小于100分鐘，+20～-70℃小于80分鐘，+20～-60℃小于70分鐘，+20～-50℃小于65分鐘，+20～-40℃小于60分鐘，+20～-20℃小于45分鐘非線性空載。
7.試驗(yàn)速率：10 ～ 60次/分可調(diào)。
8.彎曲角度：10°～ 180°可調(diào)。
9.試驗(yàn)工位：每次同時(shí)進(jìn)行2組。
10.彎曲次數(shù)：0 ～ 999999可預(yù)置。